用途：

　　用于無(wú)源天線、有源天線的輻射性能測(cè)試，適用于天線罩電性能測(cè)試?？勺鳛槎喾N導(dǎo)引頭、數(shù)據(jù)鏈、無(wú)線電引信的天線、天線罩的測(cè)試暗室。

　　特點(diǎn)：

　　整個(gè)暗室建造屬于復(fù)雜系統(tǒng)工程，包括暗室設(shè)計(jì)、施工、集成、測(cè)試、維護(hù)等環(huán)節(jié)。其中，暗室施工環(huán)節(jié)主要包括吸波材料貼敷、屏蔽體建造和配套設(shè)施安裝調(diào)試等工作。

　　本暗室為功能單一的UHF~Ka波段天線天線罩通用測(cè)試暗室，其難度體現(xiàn)于以下幾個(gè)方面：

　　寬帶發(fā)射源形成固有發(fā)射路徑下工作頻帶寬，對(duì)暗室的寬帶吸波特性要求較高；同時(shí)在高精度測(cè)量時(shí)，轉(zhuǎn)臺(tái)對(duì)暗室工作區(qū)的無(wú)回波反射特性有影響；

　　發(fā)射天線與接收轉(zhuǎn)臺(tái)位置固定，收發(fā)天線相位中心配準(zhǔn)要求較高，對(duì)暗室吸波特性對(duì)稱要求較高；同時(shí)，在測(cè)試時(shí)，被測(cè)天線或天線罩既可能是接收狀態(tài)，也可能是發(fā)射狀態(tài)，導(dǎo)致每個(gè)暗室均為收發(fā)雙靜區(qū)模式；

　　暗室內(nèi)微波設(shè)備、機(jī)電設(shè)備龐大，兩套發(fā)射天線、轉(zhuǎn)臺(tái)、微波設(shè)備、測(cè)控設(shè)備、配套設(shè)施同時(shí)工作，信號(hào)復(fù)雜，要滿足多個(gè)系統(tǒng)運(yùn)行電磁兼容性，對(duì)電磁屏蔽特性要求較高；

　　屏蔽體頂棚重量很難由建筑物附體分擔(dān)，整個(gè)暗室采用雙暗室結(jié)構(gòu)，既要求專用性又兼顧通用性，對(duì)配套設(shè)施要求高，總體設(shè)計(jì)難度大，加之基建、屏蔽、吸波、配套設(shè)施、微波設(shè)備、發(fā)射天線、轉(zhuǎn)臺(tái)、測(cè)控設(shè)備等多個(gè)承制方協(xié)同作業(yè)，工程復(fù)雜，工作協(xié)調(diào)性要求高。